基于X光的坚果缺陷检测系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511038325.3

申请日：

2025-07-28

公开(公告)号：

CN120543552B

公开(公告)日：

2025-10-03

发明(设计)人：

桂岳贾星明方彧孙敏焦亚楠

申请人：

合肥瑞云超微识别技术有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市高新区南岗镇磨子潭路1788号内部厂房4号厂房西边第一户101室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G01N23/04 G06V10/44 G06V10/74

代理机构：

合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160

代理人：

张飞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250728
2025-08-26	公开	公开
2025-10-03	授权	授权

共 50 条

[1]

基于X光的坚果缺陷检测系统及方法 [P].

桂岳 ;

贾星明 ;

方彧 ;

孙敏 ;

焦亚楠 .

中国专利 :CN120543552A ,2025-08-26

[2]

基于X光的杂粮异物检测系统及方法 [P].

桂岳 ;

贾星明 ;

方彧 ;

孙敏 ;

焦亚楠 .

中国专利 :CN120629223A ,2025-09-12

[3]

一种基于X射线的GIS设备缺陷检测方法及系统 [P].

苏广群 ;

霍欣杰 ;

陈厚昌 .

中国专利 :CN117129491B ,2024-03-29

[4]

基于光弹性的缺陷检测方法及系统 [P].

林士圣 ;

游智伟 .

中国专利 :CN121141688A ,2025-12-16

[5]

缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

杨东 ;

李阳 ;

李久航 ;

熊荣 ;

张海滨 ;

李红川 ;

王融慧 ;

潘彦霖 ;

杨歌 ;

何云 ;

马永生 .

中国专利 :CN119666984A ,2025-03-21

[6]

光掩膜的缺陷检测系统及光掩膜的缺陷检测方法 [P].

卢子轩 ;

王跃刚 ;

杨晓松 .

中国专利 :CN106154740A ,2016-11-23

[7]

基于机器视觉的缺陷检测方法以及缺陷检测系统 [P].

米曾真 ;

丛超 .

中国专利 :CN114618786A ,2022-06-14

[8]

光罩缺陷检测方法及系统 [P].

侯力华 ;

许文豪 .

中国专利 :CN113970557B ,2022-01-25

[9]

缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

孟阳 ;

王伟斌 .

中国专利 :CN112444526A ,2021-03-05

[10]

缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

中野拓巳 .

中国专利 :CN103635169A ,2014-03-12

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