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集成电路的测试系统及方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511099566.9
申请日：
2025-08-06
公开(公告)号：
CN120595087B
公开(公告)日：
2025-10-03
发明(设计)人：
黄锦盛
申请人：
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人：
刘远美;王蕊
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-09-05 | 公开 | 公开 |
| 2025-10-03 | 授权 | 授权 |
| 2025-09-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250806 |