一种芯片测试工装

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202511391996.8
申请日
2025-09-26
公开(公告)号
CN120870840A
公开(公告)日
2025-10-31
发明(设计)人
曾伍平 曾怡
申请人
深圳市瑞芯辉科技有限公司
申请人地址
518100 广东省深圳市光明区马田街道新庄社区新围第四工业区A54栋201
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
深圳市益企通专利代理事务所(普通合伙) 441270
代理人
钟文华
法律状态
公开
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
一种芯片的测试工装 [P]. 
李振果 ;
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[2]
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一种集成电路芯片的测试工装 [P]. 
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[6]
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