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深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110228698.2
申请日
:
2021-03-02
公开(公告)号
:
CN114121903B
公开(公告)日
:
2025-10-21
发明(设计)人
:
刘铭棋
张宇行
刘世昌
申请人
:
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址
:
中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
IPC主分类号
:
H01L23/64
IPC分类号
:
H01L23/538
H01L21/768
H10B12/00
代理机构
:
南京正联知识产权代理有限公司 32243
代理人
:
顾伯兴
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-10-21
授权
授权
2025-12-16
专利权期限的补偿
专利权期限补偿IPC(主分类):H01L 23/64申请日:20210302授权公告日:20251021原专利权期满终止日:20410302现专利权期满终止日:20411021
共 50 条
[1]
深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法
[P].
刘铭棋
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刘铭棋
;
张宇行
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张宇行
;
刘世昌
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刘世昌
.
中国专利
:CN114121903A
,2022-03-01
[2]
深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法
[P].
郭富强
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0
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郭富强
.
中国专利
:CN115528004A
,2022-12-27
[3]
深沟槽电容器、接合组合件及形成半导体结构的方法
[P].
张任远
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张任远
;
赖佳平
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赖佳平
;
李建璋
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李建璋
.
中国专利
:CN115528171A
,2022-12-27
[4]
电容器晶片、半导体结构及其形成方法
[P].
张任远
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张任远
;
赖佳平
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赖佳平
;
李建璋
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李建璋
.
中国专利
:CN115440884A
,2022-12-06
[5]
半导体电容器结构及其形成方法
[P].
江红
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江红
;
孔蔚然
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孔蔚然
;
李冰寒
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李冰寒
.
中国专利
:CN102214702B
,2011-10-12
[6]
半导体装置、电容器结构及其形成方法
[P].
陈伟庭
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陈伟庭
;
蔡宗翰
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蔡宗翰
;
庄坤苍
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庄坤苍
;
王柏仁
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王柏仁
;
陈英豪
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陈英豪
;
黄坚诚
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黄坚诚
.
中国专利
:CN112420925A
,2021-02-26
[7]
半导体装置、电容器结构及其形成方法
[P].
陈伟庭
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
陈伟庭
;
蔡宗翰
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
蔡宗翰
;
庄坤苍
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
庄坤苍
;
王柏仁
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
王柏仁
;
陈英豪
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
陈英豪
;
黄坚诚
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
黄坚诚
.
中国专利
:CN112420925B
,2024-08-13
[8]
深沟槽电容器及其制造方法
[P].
赵常宝
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赵常宝
;
叶国梁
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叶国梁
;
胡胜
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胡胜
.
中国专利
:CN115425006A
,2022-12-02
[9]
深沟槽电容器及其制造方法
[P].
赵常宝
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机构:
武汉新芯集成电路股份有限公司
武汉新芯集成电路股份有限公司
赵常宝
;
叶国梁
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机构:
武汉新芯集成电路股份有限公司
武汉新芯集成电路股份有限公司
叶国梁
;
胡胜
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机构:
武汉新芯集成电路股份有限公司
武汉新芯集成电路股份有限公司
胡胜
.
中国专利
:CN115425006B
,2025-02-07
[10]
半导体结构及电容器结构的形成方法
[P].
刘涛
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刘涛
;
夏军
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夏军
;
占康澍
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占康澍
;
李森
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李森
;
徐朋辉
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徐朋辉
;
宛强
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宛强
.
中国专利
:CN115588661A
,2023-01-10
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