深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法

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专利类型
发明
申请号
CN202110228698.2
申请日
2021-03-02
公开(公告)号
CN114121903B
公开(公告)日
2025-10-21
发明(设计)人
刘铭棋 张宇行 刘世昌
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址
中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
IPC主分类号
H01L23/64
IPC分类号
H01L23/538 H01L21/768 H10B12/00
代理机构
南京正联知识产权代理有限公司 32243
代理人
顾伯兴
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法 [P]. 
刘铭棋 ;
张宇行 ;
刘世昌 .
中国专利 :CN114121903A ,2022-03-01
[2]
深沟槽电容器、半导体结构及其形成方法 [P]. 
郭富强 .
中国专利 :CN115528004A ,2022-12-27
[3]
深沟槽电容器、接合组合件及形成半导体结构的方法 [P]. 
张任远 ;
赖佳平 ;
李建璋 .
中国专利 :CN115528171A ,2022-12-27
[4]
电容器晶片、半导体结构及其形成方法 [P]. 
张任远 ;
赖佳平 ;
李建璋 .
中国专利 :CN115440884A ,2022-12-06
[5]
半导体电容器结构及其形成方法 [P]. 
江红 ;
孔蔚然 ;
李冰寒 .
中国专利 :CN102214702B ,2011-10-12
[6]
半导体装置、电容器结构及其形成方法 [P]. 
陈伟庭 ;
蔡宗翰 ;
庄坤苍 ;
王柏仁 ;
陈英豪 ;
黄坚诚 .
中国专利 :CN112420925A ,2021-02-26
[7]
半导体装置、电容器结构及其形成方法 [P]. 
陈伟庭 ;
蔡宗翰 ;
庄坤苍 ;
王柏仁 ;
陈英豪 ;
黄坚诚 .
中国专利 :CN112420925B ,2024-08-13
[8]
深沟槽电容器及其制造方法 [P]. 
赵常宝 ;
叶国梁 ;
胡胜 .
中国专利 :CN115425006A ,2022-12-02
[9]
深沟槽电容器及其制造方法 [P]. 
赵常宝 ;
叶国梁 ;
胡胜 .
中国专利 :CN115425006B ,2025-02-07
[10]
半导体结构及电容器结构的形成方法 [P]. 
刘涛 ;
夏军 ;
占康澍 ;
李森 ;
徐朋辉 ;
宛强 .
中国专利 :CN115588661A ,2023-01-10