一种基于功率半导体的双脉冲测试电路及测试电路板

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422615498.4

申请日：

2024-10-28

公开(公告)号：

CN223461663U

公开(公告)日：

2025-10-21

发明(设计)人：

廖寅枫廖光朝鲁浩阳徐磊

申请人：

重庆云潼科技有限公司

申请人地址：

400000 重庆市江北区鱼嘴镇永和路39号6层608室

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213

代理人：

刘裕

法律状态：

授权

国省代码：

重庆市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-21	授权	授权

共 50 条

[1]

用于半导体测试的电路板 [P].

陈仕卿 ;

赖俊良 .

中国专利 :CN115219866B ,2025-06-24

[2]

一种IGBT模块双脉冲测试电路及设备 [P].

蒋开悦 ;

张小兵 ;

胡绍国 ;

廖光朝 .

中国专利 :CN221100949U ,2024-06-07

[3]

一种功率半导体模块的双脉冲动态测试装置 [P].

李亚君 ;

廖光朝 .

中国专利 :CN223742661U ,2025-12-30

[4]

双脉冲测试电路及双脉冲测试方法 [P].

张铭远 .

中国专利 :CN114755551A ,2022-07-15

[5]

功率半导体模块的电路板 [P].

柴田幸太郎 ;

泽田秀喜 .

中国专利 :CN305965738S ,2020-08-04

[6]

功率半导体模块的电路板 [P].

柴田幸太郎 ;

泽田秀喜 .

中国专利 :CN305965739S ,2020-08-04

[7]

印刷电路板及功率半导体组件 [P].

李保忠 ;

罗苑 ;

陈爱兵 ;

聂沛珈 ;

胡启钊 ;

林伟健 .

中国专利 :CN205566794U ,2016-09-07

[8]

双脉冲测试方法及测试电路 [P].

奥迪 ;

张葛 ;

唐开锋 .

中国专利 :CN120870791A ,2025-10-31

[9]

一种功率半导体器件测试电路 [P].

颜荨 ;

廖光朝 ;

张小兵 ;

胡绍国 .

中国专利 :CN223155141U ,2025-07-25

[10]

电路板的测试电路及测试仪器 [P].

邱立波 ;

王勇 ;

卓成钰 ;

闫勇 ;

余定林 .

中国专利 :CN208736976U ,2019-04-12

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