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一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511366724.2
申请日：
2025-09-24
公开(公告)号：
CN120876460A
公开(公告)日：
2025-10-31
发明(设计)人：
赵柏聿 吴义针 高放 麻胜恒
申请人：
中科（深圳）无线半导体有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区南头街道马家龙社区南山大道3838号工业村金栋309
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T5/73 G06V10/40 G06V10/764
代理机构：
成都众恒智合知识产权代理有限公司 51239
代理人：
龚攀
法律状态：
授权
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-30 授权 授权
2025-10-31 公开 公开
2025-11-18 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250924
共 50 条
[1]
一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统 [P]. 
赵柏聿 ;
吴义针 ;
高放 ;
麻胜恒 .
中国专利 :CN120876460B ,2025-12-30
[2]
基于图像处理的氧化镓晶体微观缺陷检测方法及系统 [P]. 
肖燕青 ;
郑东 ;
肖迪 ;
王鑫 ;
纪双涛 ;
贾松松 .
中国专利 :CN119335014B ,2025-05-27
[3]
基于图像处理的氧化镓晶体微观缺陷检测方法及系统 [P]. 
肖燕青 ;
郑东 ;
肖迪 ;
王鑫 ;
纪双涛 ;
贾松松 .
中国专利 :CN119335014A ,2025-01-21
[4]
一种基于显微成像的氧化镓晶体缺陷检测方法及系统 [P]. 
杨金枝 ;
王强 .
中国专利 :CN120971386A ,2025-11-18
[5]
基于图像处理的焊点缺陷检测方法及系统 [P]. 
郑雨航 ;
施兴来 ;
艾亮 ;
张昆鹏 ;
沈俊东 .
中国专利 :CN120259321A ,2025-07-04
[6]
基于图像处理的焊点缺陷检测方法及系统 [P]. 
郑雨航 ;
施兴来 ;
艾亮 ;
张昆鹏 ;
沈俊东 .
中国专利 :CN120259321B ,2025-08-12
[7]
一种基于图像处理的标签缺陷检测方法及系统 [P]. 
石原林 ;
王雪峰 .
中国专利 :CN119399554B ,2025-03-11
[8]
一种基于图像处理的标签缺陷检测方法及系统 [P]. 
石原林 ;
王雪峰 .
中国专利 :CN119399554A ,2025-02-07
[9]
基于图像处理的薄膜贴合缺陷检测方法及系统 [P]. 
董加圆 ;
曾伟忠 ;
刘孝赵 .
中国专利 :CN120876486A ,2025-10-31
[10]
基于图像处理的胶水涂抹缺陷检测方法及系统 [P]. 
董加圆 ;
曾伟忠 .
中国专利 :CN120635096B ,2025-10-31
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