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基于图像处理的氧化镓晶体微观缺陷检测方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411433890.5
申请日：
2024-10-15
公开(公告)号：
CN119335014A
公开(公告)日：
2025-01-21
发明(设计)人：
肖燕青 郑东 肖迪 王鑫 纪双涛 贾松松
申请人：
青岛华芯晶电科技有限公司 青岛芯康半导体科技有限公司
申请人地址：
266000 山东省青岛市高新区河东路383号
IPC主分类号：
G01N25/72
IPC分类号：
G06T7/00 G01J5/48 G01J5/00
代理机构：
北京铭创聚诚知识产权代理有限公司 13156
代理人：
龙烁
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
山东省 青岛市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-02-14 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 25/72申请日:20241015
2025-01-21 公开 公开
2025-05-27 授权 授权
共 50 条
[1]
基于图像处理的氧化镓晶体微观缺陷检测方法及系统 [P]. 
肖燕青 ;
郑东 ;
肖迪 ;
王鑫 ;
纪双涛 ;
贾松松 .
中国专利 :CN119335014B ,2025-05-27
[2]
一种基于显微成像的氧化镓晶体缺陷检测方法及系统 [P]. 
杨金枝 ;
王强 .
中国专利 :CN120971386A ,2025-11-18
[3]
一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统 [P]. 
赵柏聿 ;
吴义针 ;
高放 ;
麻胜恒 .
中国专利 :CN120876460A ,2025-10-31
[4]
一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统 [P]. 
赵柏聿 ;
吴义针 ;
高放 ;
麻胜恒 .
中国专利 :CN120876460B ,2025-12-30
[5]
氧化镓晶体微观缺陷及掺杂调控系统及方法 [P]. 
肖迪 ;
肖燕青 ;
郑东 ;
赵俊竹 ;
戴磊 .
中国专利 :CN119221125B ,2025-06-17
[6]
氧化镓晶体微观缺陷及掺杂调控系统及方法 [P]. 
肖迪 ;
肖燕青 ;
郑东 ;
赵俊竹 ;
戴磊 .
中国专利 :CN119221125A ,2024-12-31
[7]
基于图像处理的晶体表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
程鹏 .
中国专利 :CN120510158A ,2025-08-19
[8]
基于图像处理的晶体表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
程鹏 .
中国专利 :CN120510158B ,2025-09-12
[9]
基于图像处理的LCD缺陷检测方法及系统 [P]. 
徐鹏 ;
仝香 ;
谢高伟 .
中国专利 :CN120747101A ,2025-10-03
[10]
基于图像的顶头缺陷检测方法及系统 [P]. 
张军 ;
张振刚 ;
张天乐 ;
李亚辉 ;
张艳军 ;
陈亚洲 ;
成金永 ;
郗浩亮 ;
梁雨 .
中国专利 :CN120953225A ,2025-11-14
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