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一种基于显微成像的氧化镓晶体缺陷检测方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511082326.8
申请日：
2025-08-04
公开(公告)号：
CN120971386A
公开(公告)日：
2025-11-18
发明(设计)人：
杨金枝 王强
申请人：
深圳市新弘途科技有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区粤兴二道1号虚拟大学园重点实验室平台大楼A607
IPC主分类号：
G01N21/64
IPC分类号：
G06T7/00 G06T17/00 G06V10/40 G06V10/80 G06V10/764 G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/096 G06N3/084 G01N1/28 G01N1/32
代理机构：
深圳卓正专利代理事务所(普通合伙) 44388
代理人：
吴思莹
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-05 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/64申请日:20250804
2025-11-18 公开 公开
共 50 条
[1]
一种氧化镓晶体缺陷的表征方法及检测系统 [P]. 
田文明 ;
赵胜利 ;
孙逢柯 ;
冷静 ;
刘俊学 ;
倪文君 .
中国专利 :CN119574480A ,2025-03-07
[2]
基于图像处理的氧化镓晶体微观缺陷检测方法及系统 [P]. 
肖燕青 ;
郑东 ;
肖迪 ;
王鑫 ;
纪双涛 ;
贾松松 .
中国专利 :CN119335014B ,2025-05-27
[3]
基于图像处理的氧化镓晶体微观缺陷检测方法及系统 [P]. 
肖燕青 ;
郑东 ;
肖迪 ;
王鑫 ;
纪双涛 ;
贾松松 .
中国专利 :CN119335014A ,2025-01-21
[4]
一种光学晶体缺陷检测方法及系统 [P]. 
李智 ;
刘永军 .
中国专利 :CN120404803A ,2025-08-01
[5]
有效抑制氧化镓晶体缺陷的生长装置 [P]. 
练小正 ;
徐永宽 ;
程红娟 ;
于凯 ;
张政 ;
张颖武 ;
霍晓青 ;
李璐杰 ;
张志鹏 .
中国专利 :CN205856654U ,2017-01-04
[6]
有效抑制氧化镓晶体缺陷的生长装置 [P]. 
吴新功 ;
吴义凯 ;
田京生 .
中国专利 :CN215668280U ,2022-01-28
[7]
一种晶体缺陷检测分析方法及系统 [P]. 
伍宇扬 ;
蒋国忠 ;
伍锐 ;
戴少涛 ;
何昕 ;
吴学军 ;
伍铭越 ;
高琪 ;
时刚 .
中国专利 :CN119290973A ,2025-01-10
[8]
一种晶体缺陷检测分析方法及系统 [P]. 
伍宇扬 ;
蒋国忠 ;
伍锐 ;
戴少涛 ;
何昕 ;
吴学军 ;
伍铭越 ;
高琪 ;
时刚 .
中国专利 :CN119290973B ,2025-05-30
[9]
一种有效抑制氧化镓晶体缺陷的生长装置 [P]. 
徐永宽 ;
练小正 ;
于凯 ;
霍晓青 ;
张颖武 ;
张政 ;
程红娟 ;
李璐杰 ;
张志鹏 .
中国专利 :CN105970290B ,2016-09-28
[10]
一种基于图像处理的氧化镓晶体管缺陷检测方法及系统 [P]. 
赵柏聿 ;
吴义针 ;
高放 ;
麻胜恒 .
中国专利 :CN120876460A ,2025-10-31
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