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有效抑制氧化镓晶体缺陷的生长装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120460762.5
申请日
:
2021-03-03
公开(公告)号
:
CN215668280U
公开(公告)日
:
2022-01-28
发明(设计)人
:
吴新功
吴义凯
田京生
申请人
:
申请人地址
:
519031 广东省珠海市香洲区宝南路317号方源大厦四层401、402、403、404、405、407室
IPC主分类号
:
C30B1500
IPC分类号
:
C30B2810
C30B2916
B01D4612
代理机构
:
深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙) 44728
代理人
:
刘英
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-28
授权
授权
共 50 条
[1]
有效抑制氧化镓晶体缺陷的生长装置
[P].
练小正
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练小正
;
徐永宽
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徐永宽
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程红娟
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程红娟
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于凯
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于凯
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张政
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张政
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张颖武
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张颖武
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霍晓青
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霍晓青
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李璐杰
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李璐杰
;
张志鹏
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张志鹏
.
中国专利
:CN205856654U
,2017-01-04
[2]
一种有效抑制氧化镓晶体缺陷的生长装置
[P].
徐永宽
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徐永宽
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练小正
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练小正
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于凯
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于凯
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霍晓青
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霍晓青
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张颖武
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张颖武
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张政
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程红娟
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程红娟
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李璐杰
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李璐杰
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张志鹏
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张志鹏
.
中国专利
:CN105970290B
,2016-09-28
[3]
一种生长氧化镓晶体的生长装置
[P].
周金杰
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
周金杰
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霍晓青
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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霍晓青
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王英民
;
张胜男
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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张胜男
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程红娟
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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程红娟
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张嵩
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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张嵩
;
董增印
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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董增印
;
李贺
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
中国电子科技集团公司第四十六研究所
李贺
.
中国专利
:CN119221093A
,2024-12-31
[4]
一种生长氧化镓晶体的生长装置
[P].
周金杰
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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周金杰
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霍晓青
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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程红娟
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李贺
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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李贺
.
中国专利
:CN119221093B
,2025-04-22
[5]
一种氧化镓晶体的生长装置
[P].
周金杰
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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周金杰
;
霍晓青
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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霍晓青
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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程红娟
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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张嵩
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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董增印
;
李贺
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中国电子科技集团公司第四十六研究所
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李贺
.
中国专利
:CN119221094A
,2024-12-31
[6]
一种氧化镓晶体缺陷的表征方法及检测系统
[P].
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田文明
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赵胜利
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冷静
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倪文君
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中国科学院大连化学物理研究所
中国科学院大连化学物理研究所
倪文君
.
中国专利
:CN119574480A
,2025-03-07
[7]
一种检测晶体缺陷的装置
[P].
张玉
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张玉
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曹建民
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曹建民
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赵龙
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赵龙
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宋旭宁
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宋旭宁
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董永见
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董永见
.
中国专利
:CN203465253U
,2014-03-05
[8]
一种氧化镓晶体生长装置
[P].
王琤
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杭州镓仁半导体有限公司
杭州镓仁半导体有限公司
王琤
;
王芸霞
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杭州镓仁半导体有限公司
杭州镓仁半导体有限公司
王芸霞
;
刘进
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杭州镓仁半导体有限公司
杭州镓仁半导体有限公司
刘进
.
中国专利
:CN222043410U
,2024-11-22
[9]
一种氧化镓单晶的生长装置及氧化镓单晶生长方法
[P].
刘进
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机构:
杭州镓仁半导体有限公司
杭州镓仁半导体有限公司
刘进
.
中国专利
:CN117626405A
,2024-03-01
[10]
一种导模法生长氧化镓晶体的生长装置
[P].
齐红基
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齐红基
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赛青林
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赛青林
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中国专利
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,2022-03-08
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