电缆的性能测试装置、方法及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411793185.6

申请日：

2024-12-06

公开(公告)号：

CN119716655B

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

孙江胡建强杨敬祥彭望林刘敏韦伟赵龙

申请人：

中广核核电运营有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层

IPC主分类号：

G01R31/58

IPC分类号：

G01R27/02 G01R35/00

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

林春梅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/58申请日:20241206
2025-11-07	授权	授权
2025-03-28	公开	公开

共 50 条

[1]

电缆的性能测试装置、方法及电子设备 [P].

孙江 ;

胡建强 ;

杨敬祥 ;

彭望林 ;

刘敏 ;

韦伟 ;

赵龙 .

中国专利 :CN119716655A ,2025-03-28

[2]

拍摄性能测试装置、拍摄性能测试方法及电子设备 [P].

韦洪坷 .

中国专利 :CN117915073A ,2024-04-19

[3]

性能测试方法、性能测试装置、电子设备及存储介质 [P].

潘宝云 .

中国专利 :CN110046081A ,2019-07-23

[4]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911A ,2020-04-21

[5]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911B ,2024-04-16

[6]

电子设备的性能测试装置和方法 [P].

马强强 ;

王斌 .

中国专利 :CN120467592A ,2025-08-12

[7]

手持电子设备的性能测试装置及测试系统 [P].

吴承勋 ;

孙利民 ;

王弟元 ;

高健 .

中国专利 :CN113138155A ,2021-07-20

[8]

手持电子设备的性能测试装置及测试系统 [P].

吴承勋 ;

孙利民 ;

王弟元 ;

高健 .

中国专利 :CN113138155B ,2024-08-27

[9]

手持电子设备的性能测试装置 [P].

吴承勋 ;

孙利民 ;

王弟元 ;

高健 .

中国专利 :CN213148686U ,2021-05-07

[10]

性能测试装置、方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

廖兆琨 ;

姜雯婕 ;

雷文烈 ;

庞舒琪 ;

刘丽媛 ;

何旭东 .

中国专利 :CN120492348A ,2025-08-15

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