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一种基于X射线成像的电池缺陷检测方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511014588.0
申请日：
2025-07-23
公开(公告)号：
CN120894308A
公开(公告)日：
2025-11-04
发明(设计)人：
胡名西 黄宇伟 曾波
申请人：
深圳维森影像技术有限公司
申请人地址：
518114 广东省深圳市南山区沙河街道高发社区侨深路13号东方科技园华科大厦4E-2
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/11 G06V10/762
代理机构：
广东远胜智和知识产权代理事务所(普通合伙) 44665
代理人：
谭鑫维
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-04 公开 公开
2025-11-21 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250723
共 50 条
[1]
一种基于X射线成像的GIS设备缺陷检测方法 [P]. 
李波 ;
胡秀敏 ;
何志琴 ;
毛进 ;
孙博 ;
涂静鑫 ;
谢柯 .
中国专利 :CN111079955A ,2020-04-28
[2]
一种基于X射线成像的坚果缺陷检测方法 [P]. 
雷振兴 ;
任舒琪 ;
康靖坤 ;
计鹏兴 .
中国专利 :CN120339279A ,2025-07-18
[3]
基于X射线的供电设备内部缺陷无损检测方法及系统 [P]. 
崔玉璟 ;
武素芳 ;
黄飞林 ;
张鹏 ;
李加加 ;
李成谦 ;
任海东 ;
石钟锋 ;
程宏波 ;
吕亚峰 ;
李胤岐 ;
聂银钢 .
中国专利 :CN118566266B ,2024-10-01
[4]
基于X射线的供电设备内部缺陷无损检测方法及系统 [P]. 
崔玉璟 ;
武素芳 ;
黄飞林 ;
张鹏 ;
李加加 ;
李成谦 ;
任海东 ;
石钟锋 ;
程宏波 ;
吕亚峰 ;
李胤岐 ;
聂银钢 .
中国专利 :CN118566266A ,2024-08-30
[5]
一种基于X射线成像的麦克风元件缺陷检测方法 [P]. 
许湄婷 ;
杨雁清 ;
权小霞 .
中国专利 :CN114240865B ,2025-05-09
[6]
一种基于X射线成像的麦克风元件缺陷检测方法 [P]. 
许湄婷 ;
杨雁清 ;
权小霞 .
中国专利 :CN114240865A ,2022-03-25
[7]
一种基于X射线成像的BGA检测方法 [P]. 
许湄婷 ;
杨雁清 .
中国专利 :CN114913141A ,2022-08-16
[8]
一种基于X射线成像的BGA检测方法 [P]. 
许湄婷 ;
杨雁清 .
中国专利 :CN114913141B ,2025-03-25
[9]
一种基于X射线的目标缺陷检测系统 [P]. 
王慧明 ;
刘东华 ;
耿辰 ;
戴亚康 ;
郑健 .
中国专利 :CN105486702A ,2016-04-13
[10]
一种基于X射线成像分析系统的产品内部缺陷检测设备 [P]. 
夏玉龙 ;
夏菁 .
中国专利 :CN120253910A ,2025-07-04
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