一种集成电路菊花链结构及失效定位方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211066274.1

申请日：

2022-08-31

公开(公告)号：

CN116247037B

公开(公告)日：

2025-11-21

发明(设计)人：

林鹏荣文惠东王勇谢晓辰黄颖卓谢爽

申请人：

北京时代民芯科技有限公司北京微电子技术研究所

申请人地址：

100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号

IPC主分类号：

H01L23/544

IPC分类号：

H01L21/66

代理机构：

中国航天科技专利中心 11009

代理人：

茹阿昌

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-21	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路失效点的定位方法 [P].

倪毅强 ;

庞超 ;

杨施政 ;

陈选龙 ;

何亮 ;

张志鑫 ;

刘宇锋 .

中国专利 :CN115423753A ,2022-12-02

[2]

集成电路芯片失效点定位方法 [P].

刘海岸 .

中国专利 :CN109342920A ,2019-02-15

[3]

快速定位集成电路失效位置的方法及装置 [P].

丁德建 ;

高金德 .

中国专利 :CN114035029A ,2022-02-11

[4]

集成电路失效检测方法及装置 [P].

曲晨冰 ;

郑林挺 ;

恩云飞 ;

黄云 ;

路国光 ;

林晓玲 ;

王力纬 ;

黎恩良 ;

侯波 ;

雷登云 ;

孙宸 .

中国专利 :CN114594370A ,2022-06-07

[5]

一种集成电路老化失效预警方法及电路 [P].

史江义 ;

韩玉秀 ;

张华春 ;

马佩军 ;

张馨元 ;

李林涛 ;

苏昭伟 ;

周艳 .

中国专利 :CN111812485A ,2020-10-23

[6]

集成电路结构及制造集成电路结构的方法 [P].

毕诗伟 ;

叶昇韦 ;

陈彦羽 ;

郑文豪 ;

林志威 ;

林群智 .

中国专利 :CN110310936A ,2019-10-08

[7]

集成电路、集成电路布局结构及形成集成电路的方法 [P].

林孟汉 ;

陈德安 .

中国专利 :CN113130475A ,2021-07-16

[8]

集成电路、集成电路布局结构及形成集成电路的方法 [P].

林孟汉 ;

陈德安 .

中国专利 :CN113130475B ,2025-06-06

[9]

集成电路失效率获取方法 [P].

章晓文 ;

林晓玲 ;

高汭 .

中国专利 :CN112782558A ,2021-05-11

[10]

一种基于倒装焊的塑封菊花链电路结构及测试方法 [P].

文惠东 ;

黄颖卓 ;

林鹏荣 ;

练滨浩 ;

王勇 .

中国专利 :CN111725152A ,2020-09-29

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