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一种L型P-GaN HEMT器件结构及其制备方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202511298484.7
申请日
:
2025-09-11
公开(公告)号
:
CN120812984A
公开(公告)日
:
2025-10-17
发明(设计)人
:
吴义针
麻胜恒
汪连山
陈福鑫
赵柏聿
申请人
:
中科(深圳)无线半导体有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区南头街道马家龙社区南山大道3838号工业村金栋309
IPC主分类号
:
H10D30/47
IPC分类号
:
H10D30/01
H10D64/00
H10D64/66
代理机构
:
成都众恒智合知识产权代理有限公司 51239
代理人
:
朱杰
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-11-04
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H10D 30/47申请日:20250911
2025-10-17
公开
公开
共 50 条
[1]
p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
施宜军
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
施宜军
;
申志蓬
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申志蓬
;
陈媛
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
;
何亮
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
何亮
;
陈兴欢
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈兴欢
;
陈义强
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
路国光
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN121218634A
,2025-12-26
[2]
一种P-GaN栅增强型HEMT器件及其制备方法
[P].
李祥东
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李祥东
;
韩占飞
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韩占飞
;
刘苏杭
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刘苏杭
;
张进成
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张进成
;
郝跃
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郝跃
.
中国专利
:CN113658856A
,2021-11-16
[3]
一种P-GaN栅增强型HEMT器件及其制备方法
[P].
李祥东
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机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
李祥东
;
韩占飞
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西安电子科技大学
西安电子科技大学
韩占飞
;
刘苏杭
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西安电子科技大学
西安电子科技大学
刘苏杭
;
张进成
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西安电子科技大学
西安电子科技大学
张进成
;
郝跃
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机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
郝跃
.
中国专利
:CN113658856B
,2024-04-19
[4]
一种p-GaN栅增强型HEMT器件及其制备方法
[P].
龚建彪
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机构:
西安电子科技大学芜湖研究院
西安电子科技大学芜湖研究院
龚建彪
;
陈兴
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西安电子科技大学芜湖研究院
西安电子科技大学芜湖研究院
陈兴
;
冯倩
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西安电子科技大学芜湖研究院
西安电子科技大学芜湖研究院
冯倩
;
张子涵
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西安电子科技大学芜湖研究院
西安电子科技大学芜湖研究院
张子涵
;
黎伟正
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西安电子科技大学芜湖研究院
西安电子科技大学芜湖研究院
黎伟正
.
中国专利
:CN118173596A
,2024-06-11
[5]
p-GaN基增强型HEMT器件
[P].
金峻渊
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金峻渊
;
魏进
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魏进
.
中国专利
:CN108511522A
,2018-09-07
[6]
一种P-GaN增强型HEMT器件及其制备方法
[P].
吴勇
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吴勇
;
陆俊
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陆俊
;
王东
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王东
;
陈兴
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陈兴
;
汪琼
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汪琼
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葛林男
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葛林男
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严伟伟
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严伟伟
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何滇
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何滇
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曾文秀
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曾文秀
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王俊杰
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王俊杰
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操焰
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操焰
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崔傲
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崔傲
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袁珂
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袁珂
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陈军飞
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陈军飞
;
张进成
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张进成
.
中国专利
:CN111564490B
,2020-08-21
[7]
一种T型P-GaN栅GaN射频HEMT器件及其制备方法
[P].
王仝
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
王仝
;
何佳琦
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西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
何佳琦
;
刘志宏
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西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
刘志宏
;
周瑾
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西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
周瑾
;
冯欣
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西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
冯欣
;
杜航海
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西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
杜航海
;
张苇杭
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西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
张苇杭
;
邢伟川
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西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
邢伟川
;
张进成
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
张进成
;
郝跃
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
郝跃
.
中国专利
:CN119789465A
,2025-04-08
[8]
一种GaN HEMT器件、P-GaN延伸层的制备方法
[P].
李亦衡
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
李亦衡
;
王强
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
王强
;
夏远洋
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江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
夏远洋
;
魏鸿源
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江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
魏鸿源
;
武乐可
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
武乐可
;
朱廷刚
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
朱廷刚
.
中国专利
:CN120825986A
,2025-10-21
[9]
一种GaN HEMT器件、P-GaN延伸层的制备方法
[P].
李亦衡
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
李亦衡
;
王强
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
王强
;
夏远洋
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
夏远洋
;
魏鸿源
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
魏鸿源
;
武乐可
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
武乐可
;
朱廷刚
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机构:
江苏能华微电子科技发展有限公司
江苏能华微电子科技发展有限公司
朱廷刚
.
中国专利
:CN120825986B
,2025-12-23
[10]
一种低栅极漏电p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
论文数:
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机构:
杨凌
;
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机构:
侯斌
;
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机构:
贾茂
;
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机构:
张濛
;
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机构:
武玫
;
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机构:
宓珉瀚
;
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机构:
芦浩
;
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机构:
马晓华
;
论文数:
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机构:
郝跃
.
中国专利
:CN120435030A
,2025-08-05
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