一种半导体分立器件通用测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202520260758.2

申请日：

2025-02-19

公开(公告)号：

CN223582078U

公开(公告)日：

2025-11-21

发明(设计)人：

白振强程馨毅毛阿妮张小玲王震辰管沛刘媛韩鑫

申请人：

西安电子工程研究所

申请人地址：

710199 陕西省西安市长安区韦曲凤栖东街

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290

代理人：

王丹

法律状态：

授权

国省代码：

陕西省西安市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-21	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体分立器件的测试系统 [P].

郑俊岭 .

中国专利 :CN202502212U ,2012-10-24

[2]

一种半导体分立器件测试系统 [P].

张新华 ;

张若煜 .

中国专利 :CN102866341A ,2013-01-09

[3]

一种半导体分立器件测试系统 [P].

张新华 ;

张若煜 .

中国专利 :CN202770958U ,2013-03-06

[4]

一种半导体分立器件测试结构 [P].

倪仕元 ;

蔡伟 ;

彭梅 .

中国专利 :CN119758011A ,2025-04-04

[5]

转塔式半导体分立器件测试设备 [P].

刘克燕 ;

郭树源 ;

张锦雄 ;

杨小珍 ;

吴琼涛 ;

闫伟强 ;

洪杰文 .

中国专利 :CN215613344U ,2022-01-25

[6]

一种半导体分立器件可调节测试夹具 [P].

赵翠华 ;

徐明月 ;

王晓明 .

中国专利 :CN217133213U ,2022-08-05

[7]

一种半导体分立器件参数测试装置 [P].

李凯文 ;

潘昆 ;

何伟伟 ;

张玉光 ;

杨露 .

中国专利 :CN220691049U ,2024-03-29

[8]

半导体分立器件测试的装置 [P].

李莎 ;

王辉 ;

张宗勇 .

中国专利 :CN211505782U ,2020-09-15

[9]

半导体分立器件测试仪 [P].

杜忠勤 .

中国专利 :CN3673436D ,2007-07-25

[10]

一种半导体分立器件 [P].

薛娜 ;

杨进 ;

姚强 ;

李洁 .

中国专利 :CN213366574U ,2021-06-04

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