一种相位反馈补偿准实时校准的干涉成像装置和成像方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510995927.1

申请日：

2025-07-18

公开(公告)号：

CN120991702A

公开(公告)日：

2025-11-21

发明(设计)人：

刘阳张泽张洪曼薛鹤猛

申请人：

空天信息大学（筹）

申请人地址：

250299 山东省济南市章丘区大学路2号

IPC主分类号：

G01B9/02001

IPC分类号：

G01B9/02 G01B9/02055

代理机构：

北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386

代理人：

刘丰艺

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-21	公开	公开
2025-12-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 9/02001申请日:20250718

共 50 条

[1]

成像补偿装置和成像补偿方法 [P].

欧阳晓希 .

中国专利 :CN105376557A ,2016-03-02

[2]

一种用于测量液滴的相位粒子干涉成像装置 [P].

吴迎春 ;

吴学成 ;

高翔 ;

陈玲红 ;

邱坤赞 ;

骆仲泱 ;

岑可法 ;

石琳 .

中国专利 :CN208505850U ,2019-02-15

[3]

相位恢复成像装置和成像方法 [P].

刘诚 ;

昌成成 ;

董学 ;

陶华 ;

潘兴臣 ;

朱健强 .

中国专利 :CN110687078B ,2020-01-14

[4]

成像装置校准方法和成像装置校准仪表 [P].

J·M·迪卡洛 .

中国专利 :CN1943250A ,2007-04-04

[5]

一种用于测量液滴的相位粒子干涉成像方法及装置 [P].

吴迎春 ;

吴学成 ;

高翔 ;

陈玲红 ;

邱坤赞 ;

骆仲泱 ;

岑可法 ;

石琳 .

中国专利 :CN108444877B ,2024-02-23

[6]

一种用于测量液滴的相位粒子干涉成像方法及装置 [P].

吴迎春 ;

吴学成 ;

高翔 ;

陈玲红 ;

邱坤赞 ;

骆仲泱 ;

岑可法 ;

石琳 .

中国专利 :CN108444877A ,2018-08-24

[7]

一种荧光成像装置和荧光成像方法 [P].

王科 ;

邱娉 ;

陈新林 ;

程慧 .

中国专利 :CN112113940A ,2020-12-22

[8]

成像装置和校准方法 [P].

古坂拓朗 ;

河津直树 ;

冈巧 .

中国专利 :CN113167656A ,2021-07-23

[9]

成像装置和校准方法 [P].

古坂拓朗 ;

河津直树 ;

冈巧 .

日本专利 :CN113167656B ,2024-10-22

[10]

一种成像装置和成像方法 [P].

岳小龙 .

中国专利 :CN120512595A ,2025-08-19

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