用于半导体检测设备的配电组件及半导体检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422594520.1

申请日：

2024-10-25

公开(公告)号：

CN223451402U

公开(公告)日：

2025-10-17

发明(设计)人：

张婉

申请人：

东方晶源微电子科技（北京）股份有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼

IPC主分类号：

H02B1/20

IPC分类号：

H02B1/28 H02B1/56 H02B1/30 H02J3/01

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人：

娜拉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-17	授权	授权

共 50 条

[1]

用于半导体检测设备的机台及半导体检测设备 [P].

王庆涛 .

中国专利 :CN222774517U ,2025-04-18

[2]

用于半导体检测设备的盖体及半导体检测设备 [P].

姜宇泽 ;

米涛 ;

何跃 .

中国专利 :CN120388876A ,2025-07-29

[3]

半导体检测设备装样工装及半导体检测设备 [P].

李毅 .

中国专利 :CN222338220U ,2025-01-10

[4]

半导体检测设备以及半导体检测方法 [P].

胡耿涛 ;

林生财 ;

吴贵阳 .

中国专利 :CN117538715A ,2024-02-09

[5]

半导体检测设备 [P].

李海卫 ;

张鹏斌 ;

董坤玲 ;

金建高 ;

范铎 ;

陈鲁 .

中国专利 :CN214526667U ,2021-10-29

[6]

半导体检测设备的调试件及半导体检测设备的调试方法 [P].

陈鲁 ;

刘健鹏 ;

左天成 ;

范铎 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114486181A ,2022-05-13

[7]

半导体检测设备的调试件及半导体检测设备的调试方法 [P].

陈鲁 ;

刘健鹏 ;

左天成 ;

范铎 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114486181B ,2024-03-01

[8]

半导体检测电路和方法、半导体检测设备和存储介质 [P].

罗海 ;

吴喆 ;

王国庆 .

中国专利 :CN117723800B ,2024-05-07

[9]

半导体检测电路和方法、半导体检测设备和存储介质 [P].

罗海 ;

吴喆 ;

王国庆 .

中国专利 :CN117723800A ,2024-03-19

[10]

承载装置及半导体检测设备 [P].

陈鲁 ;

邓曾红 ;

黄有为 ;

张嵩 .

中国专利 :CN113078095A ,2021-07-06

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