一种测试装置以及测试装置的测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511242121.1

申请日：

2025-08-29

公开(公告)号：

CN121027931A

公开(公告)日：

2025-11-28

发明(设计)人：

陈兴渝周旭刚郭文龙何明建柳仁辉符欢

申请人：

天芯互联科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道坪西社区富岭路1号5栋

IPC主分类号：

G01R31/70

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/073

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

李姣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/70申请日:20250829
2025-11-28	公开	公开

共 50 条

[1]

测试装置、测试装置的制造方法以及测试方法 [P].

北村阳介 ;

大石周 ;

黄晓橹 .

中国专利 :CN108336064A ,2018-07-27

[2]

测试座以及测试装置 [P].

周旭刚 ;

江京 ;

陈兴渝 ;

柳仁辉 ;

何明建 .

中国专利 :CN223538904U ,2025-11-11

[3]

测试装置以及测试箱 [P].

汪平中 ;

李治 ;

李水青 ;

周彬 ;

柴新涛 ;

颜雷 .

中国专利 :CN120294434A ,2025-07-11

[4]

测试装置以及测试方法 [P].

丘向忠 ;

梁金 .

中国专利 :CN101520372A ,2009-09-02

[5]

测试装置以及测试方法 [P].

何羽轩 .

中国专利 :CN120446702A ,2025-08-08

[6]

测试装置以及测试方法 [P].

饭岛匡史 ;

木村英明 .

日本专利 :CN120265998A ,2025-07-04

[7]

测试装置以及测试方法 [P].

大空聡 ;

中川哲郎 ;

角田慎 ;

高岩伸贤 .

中国专利 :CN100559204C ,2006-08-16

[8]

测试装置以及测试方法 [P].

张藏文 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN107863302A ,2018-03-30

[9]

测试装置、以及测试方法 [P].

大岛直哉 .

日本专利 :CN119654554A ,2025-03-18

[10]

测试装置以及测试方法 [P].

市吉清司 .

中国专利 :CN100432689C ,2006-04-05

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