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一种半导体封装产品测试座
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202423266781.7
申请日
:
2024-12-30
公开(公告)号
:
CN223727879U
公开(公告)日
:
2025-12-26
发明(设计)人
:
朴海龙
申请人
:
苏州成芯新技术研发有限公司
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区20幢309室
IPC主分类号
:
G01R1/04
IPC分类号
:
代理机构
:
苏州高展知识产权代理有限公司 32763
代理人
:
孙晓宇
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-12-26
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体封装测试装置
[P].
赖金榜
论文数:
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0
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0
赖金榜
.
中国专利
:CN211479983U
,2020-09-11
[2]
一种半导体封装的测试装置
[P].
谢卫国
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机构:
安徽吉来特电子有限公司
安徽吉来特电子有限公司
谢卫国
;
唐朝任
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机构:
安徽吉来特电子有限公司
安徽吉来特电子有限公司
唐朝任
;
言旭辉
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机构:
安徽吉来特电子有限公司
安徽吉来特电子有限公司
言旭辉
.
中国专利
:CN220933126U
,2024-05-10
[3]
一种半导体封装测试结构
[P].
戴卫星
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戴卫星
;
杜淼
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杜淼
.
中国专利
:CN217931932U
,2022-11-29
[4]
一种半导体封装测试机
[P].
王飞
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机构:
湖北福灿电子科技有限公司
湖北福灿电子科技有限公司
王飞
;
王锟
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机构:
湖北福灿电子科技有限公司
湖北福灿电子科技有限公司
王锟
;
鲁明
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机构:
湖北福灿电子科技有限公司
湖北福灿电子科技有限公司
鲁明
.
中国专利
:CN223692469U
,2025-12-19
[5]
一种半导体封装测试用测试架
[P].
范树平
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范树平
;
石明培
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石明培
;
鲁建明
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鲁建明
.
中国专利
:CN213304095U
,2021-05-28
[6]
一种半导体封装测试装置
[P].
茅礼卿
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南通宁芯微电子有限公司
南通宁芯微电子有限公司
茅礼卿
;
季国庆
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南通宁芯微电子有限公司
南通宁芯微电子有限公司
季国庆
;
杨全
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机构:
南通宁芯微电子有限公司
南通宁芯微电子有限公司
杨全
.
中国专利
:CN220532305U
,2024-02-27
[7]
一种半导体封装测试探针
[P].
金玄
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金玄
.
中国专利
:CN216449624U
,2022-05-06
[8]
一种半导体芯片封装测试夹具
[P].
沈焘焘
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机构:
合肥鑫丰科技有限公司
合肥鑫丰科技有限公司
沈焘焘
;
江亮亮
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机构:
合肥鑫丰科技有限公司
合肥鑫丰科技有限公司
江亮亮
.
中国专利
:CN222449931U
,2025-02-11
[9]
一种半导体封装测试装置
[P].
顾亭
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顾亭
;
李兰珍
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李兰珍
;
陈璟玉
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陈璟玉
.
中国专利
:CN209607703U
,2019-11-08
[10]
一种半导体封装测试装置
[P].
刘志双
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刘志双
;
曾广锋
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曾广锋
;
高涛
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高涛
;
陈玉成
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陈玉成
.
中国专利
:CN215869301U
,2022-02-18
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