一种半导体封装产品测试座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202423266781.7
申请日
2024-12-30
公开(公告)号
CN223727879U
公开(公告)日
2025-12-26
发明(设计)人
朴海龙
申请人
苏州成芯新技术研发有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区20幢309室
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
代理机构
苏州高展知识产权代理有限公司 32763
代理人
孙晓宇
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体封装测试装置 [P]. 
赖金榜 .
中国专利 :CN211479983U ,2020-09-11
[2]
一种半导体封装的测试装置 [P]. 
谢卫国 ;
唐朝任 ;
言旭辉 .
中国专利 :CN220933126U ,2024-05-10
[3]
一种半导体封装测试结构 [P]. 
戴卫星 ;
杜淼 .
中国专利 :CN217931932U ,2022-11-29
[4]
一种半导体封装测试机 [P]. 
王飞 ;
王锟 ;
鲁明 .
中国专利 :CN223692469U ,2025-12-19
[5]
一种半导体封装测试用测试架 [P]. 
范树平 ;
石明培 ;
鲁建明 .
中国专利 :CN213304095U ,2021-05-28
[6]
一种半导体封装测试装置 [P]. 
茅礼卿 ;
季国庆 ;
杨全 .
中国专利 :CN220532305U ,2024-02-27
[7]
一种半导体封装测试探针 [P]. 
金玄 .
中国专利 :CN216449624U ,2022-05-06
[8]
一种半导体芯片封装测试夹具 [P]. 
沈焘焘 ;
江亮亮 .
中国专利 :CN222449931U ,2025-02-11
[9]
一种半导体封装测试装置 [P]. 
顾亭 ;
李兰珍 ;
陈璟玉 .
中国专利 :CN209607703U ,2019-11-08
[10]
一种半导体封装测试装置 [P]. 
刘志双 ;
曾广锋 ;
高涛 ;
陈玉成 .
中国专利 :CN215869301U ,2022-02-18