ALGORITHMS FOR DETECTION OF FAULTS IN LOGIC CIRCUITS

被引：19

作者：

BOURICIUS, WG

HSIEH, EP

PUTZOLU, GR

ROTH, JP

SCHNEIDER, PR

TAN, CJ

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/T-C.1971.223125

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：1258 / +

页数：1

共 8 条

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