A TECHNIQUE FOR TRAP DETERMINATIONS IN LOW-RESISTIVITY SEMICONDUCTORS

被引：40

作者：

WEISBERG, LR

SCHADE, H

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1655936

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：5149 / &

共 8 条

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