LATTICE-PARAMETER MEASUREMENTS IN EPITAXIC LAYERS

被引：2

作者：

LIND, MD

GERTNER, ER

RODE, JP

ANDREWS, AM

机构：

来源：

JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY | 1978年 / 11卷 / OCT期

关键词：

D O I：

10.1107/S0021889878014211

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

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页数：1

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