A RAPID AND ACCURATE METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF DIFFUSED LAYERS IN SILICON AND GERMANIUM

被引：9

作者：

JANSEN, B

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(61)90052-1

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：14 / &

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共 3 条

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