CURRENT INDUCED TRAP GENERATION IN SIO2

被引：47

作者：

BADIHI, A

EITAN, B

COHEN, I

SHAPPIR, J

机构：

来源：

APPLIED PHYSICS LETTERS | 1982年 / 40卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1063/1.93115

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：396 / 398

页数：3

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