A REVIEW OF FAULT-TOLERANT TECHNIQUES FOR THE ENHANCEMENT OF INTEGRATED-CIRCUIT YIELD

被引：44

作者：

MOORE, WR

机构：

[1] Oxford Univ, Engl, Oxford Univ, Engl

来源：

PROCEEDINGS OF THE IEEE | 1986年 / 74卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1986.13531

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

INTEGRATED CIRCUITS

引用

页码：684 / 698

页数：15

共 186 条

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