A DOUBLE CRYSTAL X-RAY-DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF ALXGA1-XAS GROWN ON AN OFFCUT GAAS(100) SUBSTRATE

被引：13

作者：

LEIBERICH, A

LEVKOFF, J

机构：

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B | 1990年 / 8卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1116/1.585038

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：422 / 430

页数：9

共 13 条

AUVRAY, P ;

BAUDET, M ;

REGRENY, A .

BARTELS, WJ ;

NIJMAN, W .

[3]

Chu W.-K., 1978, BACKSCATTERING SPECT

[4]

Compton A. H., 1935, XRAYS THEORY EXPT

[5]

Cullity B. D., 1978, ELEMENTS XRAY DIFFRA, P501

ESTOP, E ;

IZRAEL, A ;

SAUVAGE, M .

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A, 1976, 32 (JUL1) :627-&

[7]

Ibers J. A., 1974, INT TABLES XRAY CRYS, VIV

[8]

LEVKOFF J, UNPUB J APPL PHYS

[9]

MACRANDER AT, 1988, J APPL PHYS, V64, P6736

[10]

MACRANDER AT, 1986, 1986 P MAT RES SOC N