LOW-ENERGY ELECTRON-DIFFRACTION AND X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY STUDIES OF THE FORMATION OF SUBMONOLAYER INTERFACES OF SB/SI(111)

被引:92
作者
PARK, CY [1 ]
ABUKAWA, T [1 ]
KINOSHITA, T [1 ]
ENTA, Y [1 ]
KONO, S [1 ]
机构
[1] TOHOKU UNIV,FAC SCI,DEPT PHYS,SENDAI,MIYAGI 980,JAPAN
来源
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS | 1988年 / 27卷 / 01期
关键词
D O I
10.1143/JJAP.27.147
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
收藏
页码:147 / 148
页数:2
相关论文
共 5 条