DEFECTS IN AMORPHOUS-SEMICONDUCTORS

被引:58
作者
ADLER, D [1 ]
机构
[1] MIT,CTR MAT SCI & ENGN,CAMBRIDGE,MA 02139
关键词
D O I
10.1016/0022-3093(80)90301-4
中图分类号
TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
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页数:6
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