DETECTION OF THE ACTIVE LAYER OF AIIIBV SEMICONDUCTOR QUANTUM-WELL STRUCTURES BY HIGH-RESOLUTION X-RAY-DIFFRACTOMETRY

被引:14
作者
BAUMBACH, GT
RHAN, H
PIETSCH, U
机构
[1] Karl-Marx-Univ Leipzig, Germany
来源
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1988年 / 109卷 / 01期
关键词
D O I
10.1002/pssa.2211090142
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
9
引用
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页码:K7 / K10
页数:4
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