ULTRATHIN SEMICONDUCTOR LAYER MASKS FOR HIGH-VACUUM FOCUSED GA ION-BEAM LITHOGRAPHY

被引:22
作者
TEMKIN, H
HARRIOTT, LR
PANISH, MB
机构
关键词
D O I
10.1063/1.99104
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:1478 / 1480
页数:3
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