EFFECT OF ION MIXING ON THE DEPTH RESOLUTION OF SPUTTER DEPTH PROFILING

被引:15
作者
CHENG, YT
DOW, AA
CLEMENS, BM
机构
[1] GM CORP,SERV,DEPT ANALYT CHEM,WARREN,MI 48090
[2] GM CORP,SERV,DEPT PHYS,WARREN,MI 48090
关键词
D O I
10.1063/1.99977
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:1346 / 1348
页数:3
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