VELOCITY FILTERING FOR SECONDARY ION QUADRUPOLE MASS-SPECTROMETER

被引：15

作者：

SROUBEK, Z ^{[1
]}

机构：

[1] CZECHOSLOVAK ACAD SCI, INST RADIO ENGN & ELECTR, PRAGUE, CZECHOSLOVAKIA

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1686398

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1403 / 1404

页数：2

共 7 条

[1]

Andersen CA., 1970, INT J MASS SPECTROM, V3, P413, DOI [10.1016/0020-7381(70)80001-8, DOI 10.1016/0020-7381(70)80001-8]

[2]

ANDERSEN CA, 1969, INT J MASS SPECTROM, V2, P61

[3] TANDEM MASS SPECTROMETER FOR SECONDARY ION STUDIES [J].

BENNINGHOVEN, A ;

LOEBACH, E .

[4] SECONDARY ION EMISSION [J].

FOGEL, YM .

SOVIET PHYSICS USPEKHI-USSR, 1967, 10 (01) :17-+

GOFF, RF ;

SMITH, DP .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, 1970, 7 (01) :72-+

HUBER, WK ;

SELHOFER, H ;

BENNINGH.A .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, 1972, 9 (01) :482-&

[7] ANALYSIS OF SURFACES UTILIZING SPUTTER ION SOURCE INSTRUMENTS [J].

SOCHA, AJ .