模拟集成电路参数型故障定位方法

被引:6
作者
谢永乐
李西峰
机构
[1] 电子科技大学自动化工程学院
关键词
模拟集成电路测试; 故障诊断; 参数型故障; 故障定位; 相干函数;
D O I
暂无
中图分类号
TN43 [半导体集成电路(固体电路)];
学科分类号
080903 ; 1401 ;
摘要
针对模拟集成电路参数型故障的测试难题,提出了定位模拟集成电路参数型故障的功率谱相关分析方法.利用小波滤波器组对被测电路响应进行子带滤波后,计算子带响应序列的相干函数.通过对以相干函数序列表征的功率谱进行相关分析,不仅可以实现模拟集成电路参数型故障的数字化故障特征提取,而且还可以完成对参数型故障的定位.利用国际标准电路ITC97的状态变量滤波器和跳蛙滤波器,通过对比实验,验证了本文方法对定位参数型故障的有效性,为实现模拟集成电路参数型故障诊断的高覆盖率和诊断自动化提供了一种新途径.
引用
收藏
页码:598 / 605
页数:8
相关论文
共 21 条
[1]   Frequency specification testing of analog filters using wavelet transform of dynamic supply current [J].
Bhunia, S ;
Raychowdhury, A ;
Roy, K .
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 21 (03) :243-255
[2]   A preprocessor for analog circuit fault diagnosis based on Prony's method [J].
El-Yazeed, MFA ;
Mohsen, AAK .
AEU-INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS AND COMMUNICATIONS, 2003, 57 (01) :16-22
[3]   Digital signature proposal for mixed-signal circuits [J].
Brosa, AM ;
Figueras, J .
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2001, 17 (05) :385-393
[4]   Fault simulation for analog circuits under parameter variations [J].
Khouas, A ;
Derieux, A .
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 16 (03) :269-278
[5]   On maximizing the coverage of catastrophic and parametric faults [J].
Brosa, AM ;
Figueras, J .
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 16 (03) :251-258
[6]   A combined clustering and neural network approach for analog multiple hard fault classification [J].
El-Gamal, MA ;
Abu El-Yazeed, MF .
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 1999, 14 (03) :207-217
[7]  
现代信号处理.[M].张贤达著;.清华大学出版社.2002,
[8]   模拟VLSI电路故障诊断的相关分析法 [J].
谢永乐 .
半导体学报, 2007, (12) :1999-2005
[9]   模拟VLSI测试的小波滤波器组方法 [J].
谢永乐 .
计算机辅助设计与图形学学报, 2007, (11) :1459-1464
[10]   模拟VLSI电路故障诊断的子带特征提取方法 [J].
谢永乐 ;
李西峰 .
四川大学学报(工程科学版), 2007, (05) :149-154