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极紫外投影光刻物镜设计
被引:7
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
杨雄
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
邢廷文
机构
:
[1]
中国科学院光电技术研究所
来源
:
光学学报
|
2009年
/ 29卷
/ 09期
关键词
:
光学设计;
物镜;
光刻;
极紫外;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O435.2 [光具组理论与象差理论];
学科分类号
:
070207 ;
0803 ;
摘要
:
极紫外投影光刻用14 nm波长的电磁辐射,可以在实现高分辨率的同时保持相对较大的焦深,有希望成为制造超大规模集成电路的下一代光刻技术。极紫外投影光刻工作于步进扫描方式,采用全反射、无遮拦、缩小的环形视场投影系统。无遮拦投影系统的初始结构设计困难且重要。介绍了一种近轴搜索方法,该方法引入了像方远心、物方准远心、固定放大率、Petzval条件和物像共轭关系等约束,通过计算确定第一面反射镜、最后一面反射镜、光阑所在反射镜的曲率,以及物距和像距。编写了近轴搜索程序,搜索出初始结构。从初始结构出发,优化得到两套物镜,一套由四反射镜组成的系统,数值孔径0.1,像方视场26 mm×1 mm,畸变10 nm,分辨率优于6000 cycle/mm。一套系统由六反射镜组成,数值孔径0.25,像方视场26 mm×1 mm,畸变3 nm,分辨率优于18 000 cycle/mm。
引用
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页码:2520 / 2523
页数:4
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极紫外投影光刻两镜微缩投影系统的光学设计
[J].
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2002,
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[4]
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