老化实验条件下的IGBT寿命预测模型

被引:81
作者
赖伟 [1 ]
陈民铀 [1 ]
冉立 [1 ]
王学梅 [2 ]
徐盛友 [1 ]
机构
[1] 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学)
[2] 华南理工大学电力学院
关键词
寿命模型; 功率循环; Weibull分布; Arrhenius广延指数模型; IGBT;
D O I
暂无
中图分类号
TM46 [变流器];
学科分类号
080508 [光电信息材料与器件];
摘要
以器件功率循环为基础,在疲劳损伤理论基础上建立功率器件寿命模型,以提高变流器的运行可靠性,为功率变流器的检修维护提供理论基础。给出了器件寿命预测模型的使用价值和意义,通过分析功率器件失效机理,设计了功率循环实验平台和老化实验方案,阐述了老化实验原理并给出了老化参数提取方法。利用Weibull分布建立了器件的一维寿命模型并分析了该模型的优缺点,提出了改进的器件三维寿命模型,通过对比、分析证明了该模型的准确性,得到的Arrhenius广延指数模型更能体现器件寿命分布。
引用
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页码:173 / 180
页数:8
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