直流气体绝缘金属封闭输电线路中绝缘子的表面电荷积聚研究

被引：40

作者：

贾志杰 ^{[1
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张斌 ^{[1
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范建斌 ^{[2
]}

李金忠 ^{[2
]}

李鹏 ^{[2
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张乔根 ^{[1
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机构：

[1] 西安交通大学电气工程学院

[2] 不详

来源：

中国电机工程学报 | 2010年 / 30卷 / 04期

关键词：

表面电荷积聚; 充电时间常数; 体积电导率; 表面电导率; 电场强度; 绝缘子形状;

D O I：

10.13334/j.0258-8013.pcsee.2010.04.014

中图分类号：

TM85 [高电压绝缘技术];

学科分类号：

摘要：

直流气体绝缘金属封闭输电线路(gas insulated transmission line,GIL)在特殊环境下可替代部分架空输电线路或电缆,从而提高输电走廊选择的灵活性。严重影响直流GIL绝缘水平的关键因素之一是沿支撑绝缘子表面的电荷积聚现象。通过建立一个板板电极系统来模拟GIL中同轴圆柱结构的电场分布,研究直流下GIL中绝缘子电荷积聚的机制,绝缘子的形状、SF6的电导率对表面电荷积聚的影响,以及电荷积聚对绝缘子沿面电场分布的影响。结果表明,聚四氟乙烯绝缘子的表面电导率比体积电导率受电场的影响更大;初始时沿面法向场强小的绝缘子的电荷积聚能得到明显抑制;SF6的电导率与绝缘子表面电导率的比值影响积聚电荷的极性。

引用

页码：112 / 117

页数：6

共 10 条

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