高速电光调制器波导测试系统滤光片的研制

被引:1
作者
付秀华 [1 ]
唐昊龙 [1 ]
刘国军 [1 ]
刘凤娥 [2 ]
张静 [1 ]
机构
[1] 长春理工大学光电工程学院
[2] 中国兵器工业标准化研究所
关键词
薄膜; 高截止度滤光膜; 双离子束溅射; 波导测试系统;
D O I
暂无
中图分类号
O484.41 [];
学科分类号
0803 ;
摘要
为了实现对基于BaTiO3薄膜的高速电光调制器波导精确测试,研制出了一种深背景、高截止度的滤光片,用于提高测试系统信噪比,排除杂光干扰。该滤光片采用双离子束溅射的制备方法,以Nb和SiO2作为沉积材料,借助TFCalc和Macleod软件进行膜系设计和工艺反馈分析,通过正交矩阵法简化了辅助离子源工艺参数的优化过程,保证了采用优化后的工艺制备的薄膜具有更低的吸收,利用实时标定薄膜材料沉积速率等方法,解决了膜层厚度精确控制等问题。制备的滤光片通带中心波长为1550.1nm,通带宽度5.1nm,光密度在-0.1~30dB处的波长间隔为1.9 nm,满足了波导精确测试系统的使用要求。
引用
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页码:3380 / 3385
页数:6
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