脉冲激光辐照CCD面阵探测器系统局部的干扰效应研究

被引：9

作者：

王世勇

付有余

郭劲

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光电部

[2] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光电部长春

[3] 长春

来源：

应用激光 | 2001年 / 05期

关键词：

脉冲激光; 面阵CCD系统; 饱和阈值;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN248 [激光器];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

采用脉冲激光对面阵 CCD探测器系统进行干扰 ,研究了脉冲激光辐照 CCD系统局部时 ,系统工作状态的变化 ,测量了 CCD探测器系统的饱和阈值范围 ,分析了饱和的原因。在实验中观察到“光饱和串音”现象 ,实验验证了不同干扰频率对 CCD探测系统具有不同的效果

引用

页码：317 / 318+298 +298

页数：3

共 6 条

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