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X荧光滤纸片薄样法测定铅锌矿选矿流程样中Pb、Zn、Cu、Fe附视频
被引:3
作者:
殷秀文,郝贡章
机构:
[1] 北京有色金属研究总院
来源:
关键词:
XRFA;滤纸片薄样法;选矿流程样;Pb、Zn、Cu、Fe测定;
D O I:
10.13595/j.cnki.issn1000-0720.1996.0022
中图分类号:
O657.34 [X射线荧光分析法];
学科分类号:
070302 ;
081704 ;
摘要:
本法将X荧光滤纸片薄样法用于具有复杂组份的铅锌矿选矿样品中Pb、Zn、Cu、Fe的分析,样品经化学溶样后滴于定量滤纸片上,标准样品可直接用纯试剂人工配制,用同样制成滤纸片薄样标准系列,因薄样测定可不作基体效应校正,标样使用数量少,又无需化学法标定,故方法实验周期短,样品测定手续简便快速,元素分析含量适应范围宽,可适用于组分复杂,元素含量变化范围大的试样分析。样品分析结果与化学法相符,方法准确度与精密度均能满足选矿样品分析的要求。
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