星上CCD成像非均匀性的实时校正

被引：28

作者：

王文华 ^{[1
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何斌 ^{[1
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韩双丽 ^{[1
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李国宁 ^{[1
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吕增明 ^{[1
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任建岳 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

[2] 中国科学院研究生院

来源：

光学精密工程 | 2010年 / 18卷 / 06期

关键词：

时间延时积分CCD; 成像非均匀性; FPGA; 两点校正法; 辐射定标;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN386.5 [电荷耦合器件];

学科分类号：

0805 ; 080501 ; 080502 ; 080903 ;

摘要：

研究了时间延时积分(TDICCD)成像产生非均匀性的原因,基于两点校正算法探讨了星上图像非均匀性实时校正的可行性方案。鉴于工程一体化设计的要求,在常用的CCD时序处理器FPGA上实现了硬件实时校正。通过对相机均匀辐射定标,利用FPGA读取前32行TDICCD图像数据进行非均匀性等效灰度值(NUEDN)计算,根据工程经验,设定当NUEDN>2时对数字图像进行非均匀性实时校正。硬件实时校正结果表明,均匀辐照下NUEDN可降至0.29。实验室动态目标滚筒成像试验表明,实时校正后TDICCD推扫成像均匀光滑,满足工程需要。

引用

页码：1420 / 1428

页数：9

共 9 条

[1] 线阵CCD成像系统自校图形设计 [J].