负极性直流下金属微粒对SF6中支柱绝缘子闪络特性的影响

被引:10
作者
秦逸帆 [1 ]
张乔根 [1 ]
郭璨 [1 ]
李志兵 [2 ]
杜乾栋 [1 ]
游浩洋 [1 ]
刘轩东 [1 ]
机构
[1] 电力设备电气绝缘国家重点实验室(西安交通大学)
[2] 中国电力科学研究院
关键词
支柱绝缘子; SF6; 金属微粒; 闪络特性; 空间电荷; 电场分布;
D O I
10.13335/j.1000-3673.pst.2016.09.045
中图分类号
TM216 [绝缘子和套管]; TM75 [线路及杆塔];
学科分类号
摘要
金属微粒是导致气体绝缘金属封闭输电线路(gas insulated transmission line,GIL)绝缘子闪络的重要原因之一。为研究金属微粒对支柱绝缘闪络特性的影响,搭建了实验平台,研究了负极性直流下气压、金属导电微粒尺寸及位置对SF6中支柱绝缘子闪络特性的影响,对闪络过程进行了分析,并应用有限元分析软件对表面电场分布情况进行了计算。结果表明:当绝缘子表面存在金属微粒时,绝缘子闪络电压随气压增大会出现极大值,此现象主要与空间电荷的分布有关;金属微粒附着于高压导体侧时,闪络电压随金属微粒长度增加明显降低,当微粒长度超过一定值时,闪络电压下降减缓;微粒位于绝缘子金属电极侧时对绝缘水平影响最大,随着金属微粒远离高压电极,闪络电压先上升后降低。
引用
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页码:2904 / 2909
页数:6
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