我国集成电路测试技术现状及发展策略

被引：32

作者：

俞建峰 ^{[1
]}

陈翔 ^{[2
]}

杨雪瑛 ^{[2
]}

机构：

[1] 江苏出入境检验检疫局机电产品检测中心

[2] 无锡质量技术服务公司技术部

来源：

中国测试 | 2009年 / 35卷 / 03期

关键词：

集成电路; 设计验证; 晶圆测试; 芯片测试; 封装测试; 发展策略;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

集成电路在现代电子整机中的应用比重已超过25%,测试是分析集成电路缺陷的最好工具,通过测试可以提高集成电路的成品率。通过分析我国集成电路产业现状,论述我国集成电路的设计验证测试、晶圆测试、芯片测试、封装测试等关键测试环节的技术水平,提出进一步发展我国集成电路测试产业的相关建议。

引用

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共 8 条

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