损伤对苹果电参数值的影响

被引:15
作者
郭文川
朱新华
郭康权
机构
[1] 西北农林科技大学机械与电子工程学院
关键词
苹果; 损伤; 电参数; 相对介电常数; 电阻率;
D O I
暂无
中图分类号
S661.1 [苹果];
学科分类号
摘要
为了探索以电学特性识别损伤果品的方法,以富士苹果为对象进行了撞击和静压损伤对苹果电参数值影响的试验。结果表明,在苹果发生损伤后0.5h内,其相对介电常数和电阻率急剧变化,3h后趋于稳定,而同期无损苹果的相对介电常数和电阻率基本保持不变。储藏期间,撞击损伤苹果的相对介电常数持续增大并出现跃变;静压损伤苹果的相对介电常数迅速增大后保持不变,而无损苹果的相对介电常数一直保持增大趋势。
引用
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页码:133 / 135+122 +122
页数:4
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