苹果质地参数的近红外漫反射光谱无损检测模型研究

为了建立苹果质地参数的近红外光谱无损检测方法,研究了不同建模方法、不同导数处理结合不同散射及标准化处理对苹果质地参数(果皮强度、果皮脆性和果肉平均硬度)近红外漫反射光谱无损检测模型性能的影响。结果表明,在全光谱范围内,采用改进偏最小二乘法、一阶导数和标准归一化和趋势变化法散射处理相结合的光谱预处理方法建立的果皮强度、果皮脆性和果肉平均硬度校正模型效果较好,果皮强度、果皮脆性和果肉平均硬度的预测相关系数分别为0.8577、0.8880、0.8885,预测标准误差分别为0.5132、0.9060、0.1827。因此,通过近红外漫反射光谱对苹果质地参数的快速无损检测具有可行性。