INVESTIGATION OF GLASSES USING SURFACE PROFILING BY SPECTROCHEMICAL ANALYSIS OF SPUTTER-INDUCED RADIATION .1. SURFACE PROFILING TECHNIQUE WITH HIGH IN-DEPTH RESOLUTION

被引:25
作者
BACH, H
BAUCKE, FGK
机构
关键词
D O I
10.1111/j.1151-2916.1982.tb10776.x
中图分类号
TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
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页码:527 / 533
页数:7
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