USE OF SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY IN SURFACE ANALYSIS

被引：96

作者：

WERNER, HW ^{[1
]}

机构：

[1] PHILIPS RES LABS,EINDHOVEN,NETHERLANDS

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0039-6028(75)90297-6

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：301 / 323

页数：23

共 94 条

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