SEMICONDUCTOR ANALYSIS USING ORGANIC-ON-INORGANIC CONTACT BARRIERS .2. APPLICATION TO INP-BASED COMPOUND SEMICONDUCTORS

被引:55
作者
FORREST, SR [1 ]
KAPLAN, ML [1 ]
SCHMIDT, PH [1 ]
机构
[1] AT&T BELL LABS,MURRAY HILL,NJ 07974
关键词
D O I
10.1063/1.337153
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:2406 / 2418
页数:13
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