EFFECT OF CS CONTAMINATION ON THE INTERFACE STATE DENSITY OF MNOS CAPACITORS

被引：8

作者：

BAUCH, W

JAGER, K

HEZEL, R

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0169-4332(89)90450-9

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：356 / 363

页数：8

共 7 条

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