SELF-CONSISTENT ANALYSIS OF RESONANT TUNNELING IN A 2-BARRIER-ONE-WELL MICROSTRUCTURE

被引:33
作者
BRENNAN, KF [1 ]
机构
[1] GEORGIA INST TECHNOL,MICROELECTR RES CTR,ATLANTA,GA 30332
关键词
D O I
10.1063/1.339472
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:2392 / 2400
页数:9
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