DESIGN FOR TESTABILITY - A SURVEY

被引：129

作者：

WILLIAMS, TW ^{[1
]}

PARKER, KP ^{[1
]}

机构：

[1] HEWLETT PACKARD CO, LOVELAND INSTRUMENT DIV, LOVELAND, CO 80537 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1983.12531

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：98 / 112

页数：15

共 117 条

[51]

LIPPMAN MD, 1979, ELECTRONICS 0118, P113

[52]

LOSQ J, 1976, 6TH DIG INT S FAULT, P81

[53]

MANNING E, 1968, IEEE INT CONV DIG, P194

[54] FAULT EQUIVALENCE IN COMBINATIONAL LOGIC NETWORKS [J].

MCCLUSKEY, EJ ;

CLEGG, FW .

[55]

MCCLUSKEY EJ, 1981, IEEE T COMPUT, V30, P866, DOI 10.1109/TC.1981.1675717

[56] BRIDGING AND STUCK-AT FAULTS [J].

MEI, KCY .

[57]

MEI KCY, 1970, 2 STANF U DIG SYST L

[58]

Muehldorf E. I., 1978, 1978 Semiconductor Test Conference, P4

[59] LSI LOGIC TESTING - AN OVERVIEW [J].

MUEHLDORF, EI ;

SAVKAR, AD .

[60]

MUEHLDORF EI, 1977, IEEE77CH12167C PUB, P89