VARIABLE ANGLE OF INCIDENCE SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY - APPLICATION TO GAAS-ALXGA1-XAS MULTIPLE HETEROSTRUCTURES

被引:99
作者
SNYDER, PG [1 ]
ROST, MC [1 ]
BUABBUD, GH [1 ]
WOOLLAM, JA [1 ]
ALTEROVITZ, SA [1 ]
机构
[1] NASA,LEWIS RES CTR,CLEVELAND,OH 44135
关键词
D O I
10.1063/1.337695
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:3293 / 3302
页数:10
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